Ahrens, J., Bai, X., Barwick, S. W., Becka, T., Becker, K. H., Bertrand, D., Binon, F., Biron, A., Böser, S., Botner, O., Bouhali, O., Burgess, T., Carius, S., Castermans, T., Chirkin, D., Conrad, J., Cooley, J.,
Cowen, D. F., Davour, A., de Clercq, C.
& 79 others,
DeYoung, T., Desiati, P., Dewulf, J. P., Doksus, P., Ekström, P., Feser, T., Gaisser, T. K., Gaug, M., Gerhardt, L., Goldschmidt, A., Hallgren, A., Halzen, F., Hanson, K., Hardtke, R., Hauschildt, T., Hellwig, M., Herquet, P., Hill, G. C., Hulth, P. O., Hultqvist, K., Hundertmark, S., Jacobsen, J., Karle, A., Köpke, L., Kowalski, M., Kuehn, K., Lamoureux, J. I., Leich, H., Leuthold, M., Lindahl, P., Madsen, J., Marciniewski, P., Matis, H. S., McParland, C. P., Minaeva, Y., Miočinović, P., Morse, R., Nahnhauer, R., Neunhöffer, T., Niessen, P., Nygren, D. R., Ogelman, H., Olbrechts, P., Pérez de los Heros, C., Pohl, A. C., Price, P. B., Przybylski, G. T., Rawlins, K., Resconi, E., Rhode, W., Ribordy, M., Richter, S., Rodríguez Martino, J., Ross, D., Sander, H. G., Schmidt, T., Schneider, D., Schwarz, R., Silvestri, A., Solarz, M., Spiczak, G. M., Spiering, C., Steele, D., Steffen, P., Stokstad, R. G., Sudhoff, P., Sulanke, K. H., Taboada, I., Thollander, L., Tilav, S., Walck, C., Weinheimer, C., Wiebusch, C. H., Wiedemann, C., Wischnewski, R., Wissing, H., Woschnagg, K., Yodh, G. & Young, S.,
2002,
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 4858,
p. 79-91 13 p.Research output: Contribution to journal › Conference article › peer-review