Relative abundances of heavy ions measured by the CREAM-II silicon charge detector

N. H. Park, H. S. Ahn, P. S. Allison, M. G. Bagliesi, L. Barbier, J. J. Beatty, G. Bigongiari, T. J. Brandt, J. T. Childers, N. B. Conklin, S. Coutu, M. A. Duvernois, O. Ganel, J. H. Han, J. A. Jeon, K. C. Kim, M. H. Lee, P. Maestro, A. Malinine, P. S. MarrocchesiS. Minnick, S. I. Mognet, S. Nam, S. Nutter, I. H. Park, E. S. Seo, R. Sina, P. Walpole, J. Wu, J. Yang, Y. S. Yoon, R. Zei, S. Y. Zinn

Research output: Contribution to conferencePaperpeer-review

Fingerprint Dive into the research topics of 'Relative abundances of heavy ions measured by the CREAM-II silicon charge detector'. Together they form a unique fingerprint.

Physics & Astronomy