Relative abundances of heavy ions measured by the CREAM-II silicon charge detector

N. H. Park, H. S. Ahn, P. S. Allison, M. G. Bagliesi, L. Barbier, J. J. Beatty, G. Bigongiari, T. J. Brandt, J. T. Childers, N. B. Conklin, S. Coutu, M. A. Duvernois, O. Ganel, J. H. Han, J. A. Jeon, K. C. Kim, M. H. Lee, P. Maestro, A. Malinine, P. S. MarrocchesiS. Minnick, S. I. Mognet, S. Nam, S. Nutter, I. H. Park, E. S. Seo, R. Sina, P. Walpole, J. Wu, J. Yang, Y. S. Yoon, R. Zei, S. Y. Zinn